ナノシステム株式会社　画像処理,画像計測,画像解析,最終基板外観検査装置,２値化,欠陥検査,画質改善,粒度分布計測,拡大,測長,フォーカス合成,３Ｄ

　ご購入方法　　

１．外観基板検査装置
２．測長システム
　　お電話またはメールにてお問い合わせ下さい。
　　ＴＥＬ　：　 075-406-6215
　　E-mail ： s.kawashima@nanosystem.jp

３．画質改善ソフト「IES-1000」
４．汎用画像処理ソフト「NS2K-Pro/Lt」
５．フォーカス合成ソフト「FSC-1000」
６．パノラマ合成ソフト「PNM-1000」
７．フォーカス３Ｄ合成ソフト「Focus3D-Vision」
　　まず、見積依頼表示をクリックして「見積依頼書」を表示し、ブラウザで
　　印刷して下さい。印刷した「見積依頼書」に必要事項をご記入の上、
　　弊社宛にFAXまたは郵送でお送り下さい。
　　２～３日以内に弊社よりFAXまたは郵送にて御見積書をお送りいたします。
　　「見積依頼書」のご送付先
　　ＦＡＸ： 075-406-6216
　　郵送先：〒600-8815　京都市下京区中堂寺粟田町93
　　　　　　　　　　　　　　　　京都リサーチパーク４号館423号室
　　ナノシステム株式会社　インターネット販売係